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- Introducción
- Características
- Especificaci
- Embalaje
Principio de medición
Método magnético (Fe): medición del espesor de recubrimientos no magnéticos sobre acero, hierro y otros sustrmetálicos ferromagnéticos, por ejemplo, pintura, variedades de recubrimiento anticorrosión, pulverien polvo, plástico, caucho, material sintético, recubrimiento de fosfato, cromo, zinc, aluminio, estaño y cadmio, etc.
Método de corriente induinducida (enf): medición del espesor de recubrimientos no conductores en cobre, aluminio, acero inoxidable y otros sustratos no ferromagnéticos, por ejemplo, pintura, variedades de recuanticorrosión, pulverien polvo, plástico, caucho, material sintético, película de óxido y película de fosfato, etc.
Ámbito de aplicación
1. Con sonda ferro, se utiliza para medir recubrimientos no magnéticos en sustrmetálicos magnéticos.
Sustratos metálicos magnéticos comunes:
Acero, aleaciones de hierro, cobal, níquel, etc.
Recubrimientos comunes no magnéticos:
Pintura de revestimiento (pintura al óleo, pintura, pulverien polvo), película plástica, capa de caucho, revestimiento resistente a la erosión, capa de material sintético, capa de cromo, capa de cobre, capa de plomo, capa de aluminio, capa de estaño, capa de cadmio, capa de zinc, esmalte, etc.
2. Con sonda no ferro, se utiliza para medir recubrimientos no conductores en sustratos no magnéticos.
Recubrimientos comunes no conductores:
Recubrimiento de pintura (pintura al óleo, pintura, pulverización en polvo), película plástica, capa de caucho, revestimiento resistente a la erosión, capa de material sintético, capa de cromo, capa de cobre,
Capa de plomo, capa de aluminio, capa de estaño, capa de cadmio, recubrimiento de zinc, esmalte, etc.
Sustratos metálicos comunes no magnéticos:
8 tipos de sondas están disponibles para diversas aplicaciones :F1,F1/90,F3,F10,F400,N1,N3,N400;
Cáscara metálica fuerte, duradera y estable en el uso;
El software pro estándar de los datos viene;
Dos modos de medición: continuo/sencillo;
Dos modos de trabajo: modo directo (DITECT) y modo por lotes (APPL);
5 formas estadísticas: valores medios /Max.values/Min. Valores/números de ensayo (No.)/ desviaciones estándar (S.Dev);
Dos modos de calibración de medición;
Con pantalla de retroiluminación;
Pueden almacenarse 640 valores de medición;
Indicación de batería baja;
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Probe available
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F400
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F1
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F1/90°
|
F10
|
F3
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N400
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N1
|
N3
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|||||||||
|
Measuring range(um) |
0-400
|
0-1250
|
0-10000
|
0-3000
|
0-400
|
0-1250
|
0-3000
|
||||||||||
|
Accuracy
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||||||||
|
Accuracy
|
One-point calibration (µm) |
±(3%H+1)
|
±(3%H+10)
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±(3%H+5)
|
±(3%H+0.7)
|
±(3%H+10)
|
±(3%H+5)
|
||||||||||
|
Two-point calibration (µm) |
±[(1-3)H%+0.7]
|
±[(1-3)H%+1]
|
±(3%H+10)
|
±[(1-3)%H+1.5]
|
±[(1-3%H+0.7)
|
±(3%H+1.5)
|
±(3%H+5)
|
||||||||||
|
Minimum resolution(um)
|
0.1
|
0.1
|
10
|
1
|
0.1
|
0.1
|
0.5
|
||||||||||
|
Measuring conditions |
Min curvature of the min area (mm) |
Convex
|
1
|
5
|
flat
|
10
|
3
|
Convex
|
1.5
|
3
|
3
|
||||||
|
Diameter of the min area (mm) |
φ3
|
φ7
|
φ20
|
φ40
|
φ5
|
F4
|
F5
|
F5
|
|||||||||
|
Critical thickness of substrate (mm) |
0.2
|
0.5
|
1
|
2
|
0.3
|
0.3
|
0.3
|
0.3
|
|||||||||
|
Operation language |
English/Russian/Spanish
|
φ3
|
φ7
|
F20
|
φ40
|
φ5
|
|||||||||||
|
Standards
|
DIN,ISO,ASTM,BS
|
0.2
|
0.5
|
1
|
2
|
0.3
|
|||||||||||
|
Calibration
|
Zero and foil calibration |
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|
Interface
|
USB
|
||||||||||||||||
|
Statistic
|
Number of measurement, mean, standard deviation, maximum and minimum |
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|
Data memory
|
640 readings
|
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|
Limits
|
Adjustable with alarm |
||||||||||||||||
|
Power supply
|
NiMH rechargeable battery |
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|
Dimensions(mm)
|
230×86×47
|
||||||||||||||||
|
Operating environment |
Temperature:0~40C
|
||||||||||||||||
|
Humidity:20%~90%
|
|||||||||||||||||
|
No strong magnetic field |
|||||||||||||||||
Optional Probes and Application Guide
|
Probe model |
F400
|
F1
|
F1/90º |
F10
|
F3
|
||
|
Operating principle |
Magnetic induction |
||||||
|
Measuring range (µm) |
0-400
|
0-1250
|
0-10000
|
0～3000
|
|||
|
Low range resolution (µm) |
0.1
|
0.1
|
10
|
1
|
|||
|
Accuracy
|
One-point calibration (µm) |
±(3%H+1)
|
±(3%H+10)
|
±(3%H+5)
|
|||
|
Two-point calibration (µm) |
±[(1~3)H%+0.7]
|
±[(1~3)H%+1]
|
±((1～3)%H+5)
|
±[(1~3)%H+1.5]
|
|||
|
Measuring conditions |
Min curvature of the min area (mm) |
Convex
|
1
|
5
|
Flatten
|
10
|
3
|
|
Diameter of the min area (mm) |
φ3
|
φ7
|
F20
|
φ40
|
φ5
|
||
|
Critical thickness of substrate (mm) |
0.2
|
0.5
|
1
|
2
|
0.3
|
||
|
Probe model |
N400 |
N1
|
N3
|
||
|
Operating principle |
Eddy current
|
||||
|
Measuring range (µm) |
0～400 |
0～1250
|
0～3000
|
||
|
Low range resolution (µm) |
0.1
|
0.1
|
0.5
|
||
| Accuracy |
One-point calibration (µm) |
±(3%H+0.7)
|
±(3%H+1.5)
|
±(3%H+5)
|
|
|
Two-point calibration (µm) |
±[(1～3%H+0.7)
|
±[(1～3)%H+1.5]
|
±((1～3)%H+5)
|
||
|
Measuring conditions |
Min curvature of the min area (mm)
|
Convex
|
1.5
|
3
|
3
|
|
Diameter of the min area (mm) |
F4
|
F5
|
F5
|
||
|
Critical thickness of substrate (mm) |
0.3
|
0.3
|
0.3
|
||
Reference Table for Probe selection
|
Substrate Coatings
|
Non-magnetism coatings (Organic materials) |
Non-magnetism coatings(nonferrous metals) |
|||
|
Thickness of coatings is more than 100 |
|||||
|
Steel,iron and other magnetism metal |
Diameter of tesitng area is more than 30mm |
F1 probe:0~1250 µm F400 probe:0~400µm |
F1 probe:0~1250 µm F10 probe:0~10µm
|
F400probe:0~400 µm F1probe:0~1250µm
|
F1 probe:0~1250
F10µm probe:0~10µm |
|
Diameter of testing are is less than 30mm |
F400 probe:0~400µm |
F1 probe:0~1250 µm F400 probe:0~400µm |
F400probe:0~400µm
|
F400 probe:0~400
F1µm probe:0~1250µm |
|
|
Copper,Brass,Aluminum,Zinc,Tin and other metallic |
Diameter of testing area is more than 5mm |
N1 probe:0~1250µm
|
N1 probe:0~40µm
(For chromeplate on copper) |
||
|
ITEMS
|
QTY.
|
|
Main unit |
1
|
|
Probe(F1/N1)
|
1
|
|
Substrate
|
5
|
|
Calibration foil |
1
|
|
Instruction manual |
1
|
|
Communication cable |
1
|
|
Dataview software |
1
|
Chinese
Deutsch
Espanol
Francais
Italiano
Portugues
Japanese
Korean
Arabic
Russian